MC-ICP

MC-ICP-MS是一種聯用的測量儀器，它首先由Walder等人於1993年引入的，主要是套用於同位素比值的測定。

基本介紹

• 中文名：多通道接收電感耦合電漿質譜儀
• 外文名：MC-ICP-MS
• 類型：測量儀器
• 引入者：Walder等人
• 引入時間：1993年

儀器和原理

在MC-ICP-MS中，ICP作為質譜的高溫（8000K）離子源，樣品在通道中進行蒸發、解離、原子化、電離等過程。離子通過樣品錐接口和離子傳輸系統進入高真空的MS部分，MS部分為四極快速掃瞄器，通過高速通道掃描分離測定所有原子，使形成的離子按質荷比（m/e)進行分離，不同的元素有不同的質荷比，掃描元素質量範圍從6~260，通過高速雙通道分離後的離子到達MC部分，MC部分是一組法拉第杯接收器，根據元素的分子離子峰進行定性定量的分析。

工作參數

炬管位置 霧化器流速 碰撞流速等

參數的影響

電漿炬管位置：即電漿炬管與採樣錐之間的距離，它顯著影響儀器靈敏度，電漿核心位置的溫度約為8000K，而其邊緣的溫度約為4000K，當電漿的火焰遇到採樣錐的冷表面時，會形成一個“邊界層”，這個邊界層中的氧化物分子含量很高。如果電漿採樣錐距離較遠，就會有大量氧化物被提取；如果採樣錐距離電漿核心位置過近，氣溶膠就會被提取。從而影響到測量結果的準確度。

霧化器流速：它不僅影響到分析物在電漿中的停留時間，而且影響氧化物、雙電荷離子和多原子離子以及分子干擾物的產率。當霧化器流速過高時，氧化物的量會增加；當流速過低時，雙電荷離子的量會增多。